招生就业

薄膜和厚膜检测系统()

薄膜和厚膜检测系统

型 号:NanoMap500LS

技术指标:

测量范围:最大至500μm;垂直分辨率:最小为0.1nm;三维扫描范围:500μm×500μm.

主要功能、用 途:

主要应用在各种材料表面的薄膜厚度、台阶高度和粗糙度等方面的定量测量。

三维表面轮廓测量和粗糙度测量,既适用于精密抛光的光学表面也适用于质地粗糙的机加工零件。

设为主页 | 加入收藏 | 联系我们
2015 版权所有·长春理工大学光电工程学院 
电子邮箱:dx@cust.edu.cn 电话:85582246 传真:85582256